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品牌 | 九一糖心官方网站登录入口 | 服务区域 | 全国 |
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服务资质 | 颁狈础厂认可 | 发票 | 可提供 |
报告类型 | 中英文电子/纸质报告 |
服务范围
集成电路工程化量产测试,元器件失效分析:集成电路:微处理器、控制器、可编程逻辑器件、存储器系列、总线接?系列、射频器件、放大器、AD/DA,驱动芯片、监控芯片、电源类芯片等
检测标准
● GJB 597B-2012半导体集成电路通用规范
●GJB 2438A-2002混合集成电路通用规范
● GJB 548B-2005微电子器件试验方法和程序
● GJB 7400-2011合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范
● 行业规范:MIL、IEEE、JEDEC等
● 客制标准:产物?册、详细规范、测试方案
检测项目
贵罢工程化 | 测试方案开发与测试平台选型; 测试程序开发:V93000、Ultraflex、J750HD、STS系列、magnum等 测试硬件设计:loadboard、changkit、socket、PCB ?程化验证与特性参数分析 |
贵罢量产 | ?次筛选 小批量量产 量产维护与良率提升 |
应用验证 | 项目验收测试 板级应用测试 |
相关资质
CNAS
服务背景
集成电路工程化量产测试,元器件失效分析:集成电路测试卡位产业链关键节点,贯穿设计、制造、封装测试以及应用的全过程。测试在保证芯片质量,产物交付、项目验收及推向应?具有重要作?。而芯片设计多样化和定制化,对测试人才和技术经验要求明显提升,如何实现快速?程化和量产将?临极?挑战。
我们的优势
九一糖心官方网站登录入口拥有一支经验丰富的IC测试技术开发团队,可提供各类芯片的测试方案开发、测试硬件开发、测试程序开发与调试,小批量测试、应?验证。从?程化到量产的全流程专业定制化的?站式服务。
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