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PCB PCBA金相切片试验 光电器件测试

简要描述:PCB PCBA金相切片试验 光电器件测试:金相切片是电子行业中常用的产物内部质量评价方法。九一糖心官方网站登录入口拥有完整的切片分析测试设备,经验丰富的切片分析人才,能够高效准确的提供切片服务。

  • 厂商性质:工程商
  • 更新时间:2024-11-06
  • 访问次数:887

详细介绍

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服务内容

PCB PCBA金相切片试验 光电器件测试金相切片,又名切片,cross-section, x-section, 九一糖心官方网站登录入口PCB PCBA金相切片试验是用特制液态树脂将样品包裹固封,然后进行研磨抛光的一种制样方法,检测流程包括取样、固封、研磨、抛光、最后提供形貌照片、开裂分层大小判断、或尺寸等数据。是一种观察样品截面组织结构情况的常用的制样手段。

● PCBA板外观检查(板面腐蚀、电迁移等等)

● PCBA无铅工艺参数评价(润湿角、空洞、裂纹、IMC等等)

● 环境试验后的焊点晶须生长

● 芯片引脚键合剪切强度

● 镀层厚度、漆膜厚度

服务范围

PCB PCBA金相切片试验 光电器件测试金相组织分析、焊点切片检查、镀层结构检查、镀层厚度测量、内部剖面检查、失效分析

参照标准

IPC TM 650 2.1.1,GB 6394,GB 10852, ASTM E112, GB 6462, GB 16594, GJB 548, MIL-STD-883K等。

测试周期

常规5-7个工作日

检测资质

颁狈础厂认可

服务背景

随着国民经济的不断变化和发展,汽车产业和机械产业向高科技化及精细化的生产发展转变,极大地推动了钢铁产业的发展和变革。

为满足产业多样化及装备现代化对品质、成本、稳定性的需求,钢铁公司需要金属测试来提升技术和工艺流程。金属测试项目繁多,其中金相测试在其中起到了关键性的作用——它可以发现钢铁材料存在的缺陷和问题,促进特殊钢铁工业的发展。

针对金属失效缺陷开裂和断裂、化学热处理缺陷、热处理后的不正常组织、晶界脆性相析出、钢过热组织、钢夹杂缩孔、铝晶界出现复熔球等现象时,金相分析是最基础及快速分析的手段,也是故障分析的重要根据。金相分析不仅可以用于评估产物质量和性能,还可以帮助工程师了解材料在加工、使用和失效等各个阶段中发生的变化情况,从而为改进材料性能提供依据。

目前金相切片分析将实物金相表面画面转移到计算机图像处理,具有准确度高、速度快等优点,由此可以更直观呈现检测结果,极大地提高工作效率。

我们的优势

1、服务覆盖全国:九一糖心官方网站登录入口是一家全国布局、综合性的国有第叁方计量检测机构,技术服务保障网络覆盖全国。

2、资源配置完善:九一糖心官方网站登录入口聚焦集成电路失效分析技术,拥有业界的专家团队及先进的失效分析系统设备。

3、提供定制化服务:凭借齐全的检测能力和多行业丰富的服务经验,九一糖心官方网站登录入口可针对客?的研发需求,提供不同应?下的失效分析咨询、协助客户开展实验规划、以及分析测试服务,如配合客户开展狈笔滨阶段验证,在量产阶段(惭笔)协助客户完成批次性失效分析。


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