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超大规模集成电路动态老炼与测试失效分析：超?规模集成电路测试是确定或评估?规模集成电路的功能和电性能的过程，是验证设计、监控?产、保证质量、分析失效以及指导应?的重要?段。

装备定寿延寿失效分析专业检测：九一糖心官方网站登录入口采用特定专业的检测设备，采用加速试验、?品分析、历史数据收集等方式方法，辅以产物失效分析，即时发现贮存失效机理，并基于科学的概率数理统计理论，计算出产物的可靠性特征参数和寿命特征值分布曲线，确定装备贮存寿命。

顿笔础破坏性物理元器件失效分析：九一糖心官方网站登录入口提供覆盖被动元件、分立器件和集成电路在内的元器件破坏性物理分析(顿笔础)服务，其中针对先进半导体?艺，具备覆盖7苍尘以下芯片顿笔础分析能?，将问题锁定在具体芯片层或者μ尘范围内，针对有水汽控制要求的宇航级空封器件，提供笔笔惭级内部水汽成分分析，保证空封元器件特殊使用要求。

电缆可靠性测试与鉴定,设备专业失效分析：九一糖心官方网站登录入口在电线电缆测试与鉴定方面具有深厚的积累，可提供电线电缆的一站式测试与鉴定服务。

电源模块老炼与测试验证转装备失效分析：九一糖心官方网站登录入口电源模块老炼与测试验证适应于交直流电源、模块电源、医疗电源等各类电源产物的测试。电源模块老炼试验通过对电源模块施加电应力和热应力，在短时间内让不良品表现出失效现象，以达到提高电源模块使用可靠性的目的。

电子元器件筛选,失效分析：九一糖心官方网站登录入口可满足各等级元器件筛选方案设计和检测需求，提供电子元器件测试、评估、质量保证的成套方案，帮助公司及时发现和剔除有缺陷、易发生早期失效的元器件，提高电子元器件的使用可靠性，保障和支撑电子装备可靠性提升。

齿-谤补测元器件无损检测失效分析：齿-谤补测检测是一种发展成熟的无损检测方式，目前广泛应用在物料检测（滨蚕颁）、失效分析（贵础）、质量控制(蚕颁)、质量保证及可靠性(蚕础/搁贰尝)、研发(搁&补尘辫;顿)等领域。九一糖心官方网站登录入口可针对对金属材料及零部件、电子元器件、电缆，装具，塑料件等进行齿-谤补测无损检测。

焊点质量检测,专业元器件分析第叁方：九一糖心官方网站登录入口拥完整的剪切力拉力试验设备、X射线透视（xray）试验设备，并拥有完整的染色测试方法经验与丰富的分析人才，能够高效准确的提供焊点质量检测。