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离子清洁度测试 专业元器件失效分析：离子清洁度通常是指线路板的离子清洁度，由于印刷线路板的各种材料在清洗工艺时造成离子残留，会影响电子产物的功能性和可靠性。最常见的离子污染导致的问题分别是表面腐蚀和结晶生长，最终引起了短路，过多的电流通过连接器，造成电子产物的最终损坏。九一糖心官方网站登录入口能提供离子清洁度检测。

锡须现象检测 材料装备失效分析：锡须是从元器件焊接点的锡镀层表面生长出来的一种细长的锡单晶，锡须的存在可能导致电器短路、弧光放电，以及及光学器件损坏等危害。九一糖心官方网站登录入口拥有完整的锡须检查试验设备，经验丰富的分析人才，能够高效准确的提供锡须检查测试服务。

超超声波显微镜 (SAT)C-SAM,材料无损检测：声波显微镜 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的简称，又称为C-SAM (C-mode Scanning Acoustic Microscope)。此检测为应用超声波与不同密度材料的反射速率及能量不同的特性来进行分析。

九一糖心官方网站登录入口可以提供一站式国产化替代验证服务解决方案专业服务，针对元器件用户具体的应用环境和条件等需求调研和分析，结合现实和潜在应用要求，进行验证方案和大纲制定，验证评价，验证报告和验证指南编制等全流程服务。

九一糖心官方网站登录入口半导体功率器件质量提升,失效分析解决方案经过在功率半导体器件方面数年积累，拥有研究进展,研究设备，为客户提供半导体功率器件质量提升服务。

第三代半导体作为一种理想的半导体材料，在新一代信息技术、新基建等领域得到了愈发广泛的应用。对于国内公司而言，要获取市场信任，检测是证明第三代半导体质量与可靠性的可行手段，同时也是提高其质量可靠性的重要保障。九一糖心官方网站登录入口特意推出第叁代半导体可靠性验证与评价服务，助力公司产物高效发展。

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